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温度冲击试验资讯

什么是温度冲击试验
时间:2017-12-29 16:46 字体:[ ]

什么是温度冲击试验

  温度冲击试验就也是高低温冲击试验,温度冲击试验适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

温度冲击试验

  温度冲击试验目的:验证样品在高温和低温快速变化条件下使用和储存的状况。

  温度冲击试验原理:温度急剧变化时,由于热胀冷缩效应引起交变应力,造成材料开裂、接触不良、性能变化等现象。

  温度冲击试验 参考标准:GB/T 2423.22,EIA 364-32

  电子产品进行高低温冲击试验,最大的一个原因就是测试其经过高低温环境,最终可能会形成怎样的老化程度。在电子技术行业里这类产品具有很高的集成化,电子产品的结构细微工艺繁杂,因此如果在制造中任何一个环节出现问题都可能带来产品质量问题。这些可能潜伏在产品中的缺陷也许不会一下子出现,但随着使用过程中温度的变化,它可能会立马出现问题。

  如果电子产品在生产完成之后本身性能和参数不够好,那么就会在基本试验中出现较大问题,这类产品就直接属于残次品不能出厂了。而对于那些潜在的缺陷和问题,一般的测试方法是检测不出来的,比方说产品出现焊接空洞、匹配不良等问题就可能需要到使用中发现。这时通过高低温冲击试验就显得很有必要,否则要知道潜在缺陷就需要在正常使用达到较长时间之后才会激活,而一旦这时出现问题那显然会带来极大的损失。

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